國(guó)外儀器儀表發(fā)展的特點(diǎn)和發(fā)展總趨勢(shì) |
|
一、儀器儀表發(fā)展概況 50年代初期,儀器儀表取得了重大突破,數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問世,把模擬儀器的精度、分辨力與測(cè)量速度提高了幾個(gè)量級(jí),為實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化打下了良好的基礎(chǔ)。 60年代中期,測(cè)量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展,計(jì)算機(jī)的引入,使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化,從個(gè)別電量的測(cè)量轉(zhuǎn)變成測(cè)量整個(gè)系統(tǒng)的特征參數(shù),從單純的接收、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂?、分析、處理、?jì)算與顯示輸出,從用單個(gè)儀器進(jìn)行測(cè)量轉(zhuǎn)變成用測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。 70年代,計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透,使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外,又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)域(Datadomain)測(cè)試。 80年代,由于微處理器被用到儀器中,儀器前面板開始朝鍵盤化方向發(fā)展,過(guò)去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤,選擇電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開關(guān),通、斷開關(guān)鍵已經(jīng)消失。測(cè)量系統(tǒng)的主要模式,是采用機(jī)柜形式,全部通過(guò)IEEE-488總線送到一個(gè)控制器上。測(cè)試時(shí),可用豐富的BASIC語(yǔ)言程序來(lái)高速測(cè)試。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器(Personalinstrument)已經(jīng)得到了發(fā)展。 90年代,儀器儀表與測(cè)量科學(xué)進(jìn)一步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面。 1.微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設(shè)計(jì); 2.DSP芯片的大量問世,使儀器儀表數(shù)字信號(hào)處理功能大大加強(qiáng); 3.微型機(jī)的發(fā)展,使儀器儀表具有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力; 4.圖像處理功能的增加十分普遍; 5.VXI總線得到廣泛的應(yīng)用。 二、國(guó)外儀器儀表發(fā)展特點(diǎn) 1.新技術(shù)的應(yīng)用 目前普遍采用EDA(電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)、CAM(計(jì)算機(jī)輔助制造)、CAT(計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試)、DSP(數(shù)字信號(hào)處理)、ASIC(集成電路)及SMT(表面貼裝技術(shù))等。 2.產(chǎn)品結(jié)構(gòu)變化 注重性能價(jià)格比。在重視儀器開發(fā)的同時(shí),注重高新技術(shù)和量大面廣產(chǎn)品的開發(fā)與生產(chǎn)。 注重系統(tǒng)集成,不僅著眼于單機(jī),更注重系統(tǒng)、產(chǎn)品軟化,隨著各類儀器裝上了CPU,實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化后,軟件上投入了巨大的人力、財(cái)力。今后的儀器歸納成一個(gè)簡(jiǎn)單的公式:儀器=AD/DA+CPU+軟件,AD芯片將模擬信號(hào)變成數(shù)字信號(hào),再經(jīng)過(guò)軟件處理變換后用DA輸出。 3.產(chǎn)品開發(fā)準(zhǔn)則發(fā)生了變化 從技術(shù)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)為市場(chǎng)驅(qū)動(dòng),從一味追求高精尖轉(zhuǎn)為"恰到好處"。開發(fā)一項(xiàng)成功產(chǎn)品的準(zhǔn)則是,用戶有明確的需求;能用zui短的開發(fā)時(shí)間投放市場(chǎng);功能與性能要恰到好處;產(chǎn)品開發(fā)準(zhǔn)則的另一變化是收縮方向,集中優(yōu)勢(shì)。 4.生產(chǎn)技術(shù)注重專業(yè)生產(chǎn),不搞大而全 生產(chǎn)過(guò)程采用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。目前多以GP-IB儀器組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。生產(chǎn)線上盡是一個(gè)個(gè)大的測(cè)試柜,快速地進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試、統(tǒng)計(jì)、分析、打印出結(jié)果。 三、國(guó)外儀器儀表發(fā)展趨勢(shì) 工業(yè)自動(dòng)化控制儀表主要包括變送器、調(diào)節(jié)器、調(diào)節(jié)閥等設(shè)備,控制儀表從基地式調(diào)節(jié)器(變送、指示、調(diào)節(jié)一體化的儀表)開始,經(jīng)歷了氣動(dòng)、電動(dòng)單元組合儀表到計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)(DDC),直至今日的分散控制系統(tǒng)DCS。DCS已經(jīng)走過(guò)了20多年的里程,DCS以其高度的可靠性、強(qiáng)大而易于擴(kuò)充的功能、漂亮的圖形界面、方便的組態(tài)軟件、豐富的控制算法、開放的聯(lián)網(wǎng)能力等優(yōu)點(diǎn),得到迅速的發(fā)展,成為計(jì)算機(jī)工業(yè)控制系統(tǒng)的主流。PLC以其結(jié)構(gòu)緊湊、功能簡(jiǎn)單、速度快、可靠性高、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn),迅速獲得廣泛應(yīng)用,已成為與DCS并駕齊驅(qū)的另一種主流工業(yè)控制系統(tǒng)。目前以PLC為基礎(chǔ)的DCS發(fā)展很快,PLC與DCS相互滲透、相互融合、相互競(jìng)爭(zhēng),已成為當(dāng)前工業(yè)控制系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì)。 |
Copyright © 2024 上海培因?qū)嶒?yàn)儀器有限公司版權(quán)所有 備案號(hào):滬ICP備09099319號(hào)-5
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml